環(huán)境與耐久測試目的元器件溫升試驗、高低溫測試

高低溫測試：
開關電源內(nèi)部的器件由于溫度膨脹系數(shù)不同，在溫度變化時會對整體的性能產(chǎn)生影響，加速儀器老化，縮短使用壽命。因此需要進行高低溫測試來測試電源內(nèi)部器件在極端使用環(huán)境下的耐久性。試驗項目包括高/低溫操作測試，高/低溫存儲測試、低溫啟動測試、冷熱沖擊測試。

元器件溫升試驗：
開關電源在運行時，內(nèi)部元件的溫度將會升高，如果溫度超過規(guī)定值，將造成內(nèi)部元件的壽命縮短或損壞，因此需要對元器件進行溫升試驗，測試開關電源在規(guī)定的操作環(huán)境、電壓和負載條件下時，元器件的溫升狀況。
測試條件：將被測電源放置在規(guī)定的環(huán)境溫度中，依線路情況先確定溫升比較高的元件，將熱電偶粘貼在元件表面。設置好規(guī)定的輸入電壓、頻率、輸出負載后開機，并記錄輸入功率和輸出電壓。同時用記錄儀記錄元件的溫升曲線直至溫升穩(wěn)定。

環(huán)境與耐久測試目的
一款高品質(zhì)的電源除了要有高性能、高能效外，還必須具有高可靠性。而其內(nèi)部使用的功率器件，會根據(jù)使用的環(huán)境與情況的不同而受到影響，從而影響到整個產(chǎn)品的電氣性能以及使用壽命。因此在開關電源的研發(fā)及生產(chǎn)過程中，必須進行環(huán)境與耐久測試，測試電源在不同使用環(huán)境下的性能，以確保產(chǎn)品具有足夠的穩(wěn)定性、可靠性及使用壽命。

環(huán)境與耐久測試項目及內(nèi)容
? 開關循環(huán)測試
? 元件溫升測試
? 高/ 低溫操作測試
? 高/ 低溫存儲測試
? 低溫啟動測試
? 溫度循環(huán)測試/ 冷熱沖擊測試

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